ICP-MS 7850, Agilent
仪器介绍 7850 ICP-MS可以处理固体含量高达25％的样品，从而减少费时的稀释步骤。具有氦模式碰撞池和半质量校正功能，可避免多原子和双电荷离子干扰，使方法开发更简单，并解决了导致费时的样品重新测量的常见问题。 | ||||||||
仪器特点 • 超高基质进样系统 (Ultra High Matrix Introduction, UHMI) 可在不稀释的情况下直接分析总溶解态固体含量高达25％的样品，从而减少样品前处理时间。 • 氦气碰撞池和半质量校正可消除棘手的多原子和双电荷离子干扰，避免降低数据质量，同时可减少高成本的样品重新测量需求。 • 无需基质匹配的校准标样即可测定高基质样品。还可以添加盐酸以稳定Hg、Ag、Mo等重要元素，而不会引入新的干扰。 • 使用IntelliQuant可识别异常的样品基质，并获得每个样品的完整元素谱。包括元素周期表热力图在内的多种显示模式可帮助您轻松识别浓度异常的常量元素或未知元素。 | ||||||||
平台应用
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